ອຸປະກອນ semiconductor

ໃນວຽກງານພັດທະນາ ການຜະລິດ ແລະ ການກວດສອບອຸປະກອນລະດັບໄມໂຄຣ ຄວາມແມ່ນຍຳຂອງການຈ່າຍແຮງດັນ ແລະ ການວັດກະແສຂະໜາດນ້ອຍຫຼາຍ ແມ່ນປັດໃຈທີ່ກຳນົດຜົນການທົດສອບໂດຍກົງ. ຫນ້າໝວດນີ້ຖືກຈັດຂຶ້ນເພື່ອຮວບຮວມ ອຸປະກອນ semiconductor ທີ່ເກັ່ງດ້ານການ source ແລະ measure ຢ່າງລະອຽດ ສຳລັບງານຫ້ອງປະລອງ, R&D, ການກວດກາ wafer, chip ແລະການປະເມີນອຸປະກອນກ່ອນເຂົ້າກະບວນການຜະລິດ.

ເນື້ອຫາໃນໝວດນີ້ເນັ້ນໄປທີ່ອຸປະກອນທີ່ໃຊ້ງານໃນລະບົບ semiconductor ໂດຍສະເພາະ ເຊັ່ນ SMU, SourceMeter, precision source/measurement module ແລະອຸປະກອນຊ່ວຍຫຼຸດສຽງລົບກວນ. ຜູ້ໃຊ້ຈຶ່ງສາມາດຄົ້ນຫາແນວທາງເລືອກທີ່ເໝາະກັບຊ່ວງແຮງດັນ, ກະແສ, ຄວາມໄວການ sampling ແລະ ຄວາມໄວຕໍ່ການວັດຄ່າລະດັບ pA ຫຼື fA ໄດ້ສະດວກຂຶ້ນ.

ບົດບາດຂອງອຸປະກອນໃນງານ semiconductor

ໃນສາຍງານ semiconductor ການວັດສອບບໍ່ໄດ້ຈົບແຕ່ການເບິ່ງຄ່າ voltage ຫຼື current ແບບທົ່ວໄປ. ຫຼາຍກໍລະນີຕ້ອງການອຸປະກອນທີ່ສາມາດຈ່າຍສັນຍານ ແລ້ວວັດຜົນຕອບກັບໄດ້ໃນເຄື່ອງດຽວ ເພື່ອວິເຄາະ I-V curve, leakage current, breakdown behavior ຫຼື ຄຸນລັກສະນະຂອງອຸປະກອນຂະໜາດນ້ອຍ.

ດ້ວຍເຫດນີ້ SMU ແລະ ໂມດູນການວັດແທກຄວາມຊັດເຈນ ຈຶ່ງເປັນແກນຫຼັກໃນຫ້ອງທົດລອງ semiconductor. ມັນຊ່ວຍລົດຄວາມຊັບຊ້ອນໃນການຕໍ່ລະບົບ ແລະ ຊ່ວຍໃຫ້ການທົດສອບມີຄວາມເສຖີຍນ ເມື່ອຕ້ອງຈັບຄ່າສັນຍານລະດັບຕ່ຳຫຼາຍ.

ປະເພດອຸປະກອນທີ່ພົບໄດ້ໃນໝວດນີ້

ກຸ່ມສິນຄ້າໃນໝວດນີ້ຄອບຄຸມທັງເຄື່ອງແບບ stand-alone ແລະ ໂມດູນສຳລັບລະບົບທົດສອບ. ຕົວຢ່າງເຊັ່ນ KEITHLEY 2460 SourceMeter SMU Instrument ເໝາະກັບງານທີ່ຕ້ອງການພະລັງງານຂັບສູງຂຶ້ນ ໃນຂະນະທີ່ KEITHLEY 2470 ເໝາະກັບການທົດສອບທີ່ຕ້ອງອາໄສຊ່ວງແຮງດັນສູງກວ່າ.

ອີກກຸ່ມໜຶ່ງແມ່ນໂມດູນຄວາມຊັດເຈນສູງຈາກ KEYSIGHT ເຊັ່ນ PZ2131A, PZ2130A, PZ2121A, PZ2120A ແລະ PZ2110A ທີ່ມີແນວຄິດໃກ້ຄຽງກັບການທົດສອບຫຼາຍຊ່ອງ ຫຼື ການຈັບສັນຍານໄວ. ນອກຈາກນັ້ນຍັງມີອຸປະກອນເສີມເຊັ່ນ KEYSIGHT N1298B ແລະ N1298C ສຳລັບຫຼຸດສຽງລົບກວນໃນງານວັດ low-level ທີ່ອ່ອນໄຫວຫຼາຍ.

ແນວທາງເລືອກອຸປະກອນໃຫ້ຕົງກັບວຽກ

ການເລືອກອຸປະກອນ semiconductor ຄວນເລີ່ມຈາກ 3 ປັດໃຈຫຼັກ ຄື ຊ່ວງແຮງດັນ-ກະແສ, ລະດັບຄວາມໄວການວັດ ແລະ ຄວາມລະອຽດຂອງສັນຍານທີ່ຈະຈັບ. ຖ້າເປັນການກວດ leakage ຫຼື sub-threshold current ຄວນເນັ້ນເຄື່ອງທີ່ຮອງຮັບການວັດລະດັບ pA ຫຼື fA. ຖ້າເປັນການ sweep ແຮງດັນສູງ ກໍຄວນມອງຫາຮຸ່ນທີ່ຮອງຮັບ 200 V ຫາ 1000 V ຕາມຄວາມຕ້ອງການຈ