ການຈຳລອງ ESD

ໃນຂະບວນການພັດທະນາ wafer, chip ແລະອຸປະກອນອິເລັກໂທຣນິກທີ່ມີຄວາມໄວສູງ, ຄວາມສາມາດໃນການຮັບມືກັບປະຈຸໄຟຟ້າສະຖິດແມ່ນເລື່ອງສຳຄັນຫຼາຍ. ການທົດສອບແລະ ການຈຳລອງ ESD ຊ່ວຍໃຫ້ທີມວິສະວະກຳເຫັນພຶດຕິກຳຂອງຊິ້ນງານເມື່ອເກີດການຄາຍປະຈຸ, ທັງໃນຂັ້ນຕອນອອກແບບ, ການກວດສອບ ແລະ ການປັບປຸງຄວາມທົນທານຂອງຜະລິດຕະພັນ.

ສຳລັບງານ B2B ໃນອຸດສາຫະກຳ semiconductor ແລະ electronics, ອຸປະກອນກຸ່ມນີ້ບໍ່ໄດ້ມີບົດບາດພຽງແຕ່ “ທົດສອບຜ່ານຫຼືບໍ່ຜ່ານ”, ແຕ່ຍັງເປັນເຄື່ອງມືຊ່ວຍວິເຄາະຄວາມສ່ຽງ, ປັບຈູນຂະບວນການ ແລະ ລົດຄວາມເສຍຫາຍຈາກບັນຫາ latent failure ທີ່ອາດບໍ່ສະແດງອາການໃນທັນທີ.

ບົດບາດຂອງການຈຳລອງ ESD ໃນງານ semiconductor ແລະ chip

ESD ຫຼື electrostatic discharge ເປັນເຫດການຄາຍປະຈຸໄຟຟ້າແບບກະທັນຫັນທີ່ອາດສົ່ງຜົນຕໍ່ IC, die, package ແລະວົງຈອນອ່ອນໄຫວໄດ້ຢ່າງຫຼວງ. ໃນສາຍການຜະລິດ ຫຼື ຫ້ອງທົດລອງ, ການຈຳລອງສະພາບນີ້ຢ່າງຄວບຄຸມໄດ້ຊ່ວຍໃຫ້ກວດຫາຈຸດອ່ອນຂອງອອກແບບໄດ້ໄວຂຶ້ນ.

ໂດຍສະເພາະໃນງານທີ່ຕ້ອງຄຳນຶງເຖິງ reliability ລະດັບສູງ, ການເລືອກແນວທາງທົດສອບທີ່ເໝາະສົມຊ່ວຍໃຫ້ຂໍ້ມູນທີ່ໄດ້ມີຄວາມໃກ້ຄຽງກັບການໃຊ້ງານຈິງຫຼາຍຂຶ້ນ. ມັນຈຶ່ງເປັນສ່ວນໜຶ່ງຂອງແນວທາງ validation ແລະ qualification ທີ່ຫຼາຍອົງກອນນຳໄປໃຊ້.

ອຸປະກອນໃນໝວດນີ້ໃຊ້ສຳລັບຫຍັງ

ອຸປະກອນໃນໝວດນີ້ຮອງຮັບທັງການຈຳລອງສັນຍານລົບກວນ ແລະ ການທົດສອບພຶດຕິກຳຂອງ DUT ເມື່ອເຜີຍເຜີນກັບສະພາບ ESD. ສຳລັບບາງງານ, ຈຸດປະສົງແມ່ນການຈັບອາການຜິດພາດ; ສ່ວນບາງງານແມ່ນການວັດຂອບເຂດຄວາມທົນທານຂອງອຸປະກອນກ່ອນເຂົ້າຂະບວນການຜະລິດຈິງ.

ຕົວຢ່າງເຊັ່ນ SPIROX ມີອຸປະກອນທົດສອບແບບອັດຕະໂນມັດທີ່ເໝາະກັບງານຫ້ອງທົດລອງແລະການກວດສອບໃນລະດັບຊິບ, ໃນຂະນະທີ່ Tekbox ມີໂຊລູຊັນສຳລັບການຈຳລອງ transient ຫຼື disturbance ທີ່ໃຊ້ສະໜັບສະໜຸນການວິເຄາະພຶດຕິກຳຂອງລະບົບໄດ້ດີ.

ຕົວຢ່າງສິນຄ້າໃນໝວດການຈຳລອງ ESD

SPIROX HED-G5000 Automatic ESD Tester ເປັນຕົວຢ່າງຂອງລະບົບທົດສອບທີ່ເນັ້ນການທຳງານແບບອັດຕະໂນມັດ. ຈາກຂໍ້ມູນໃນບໍລິບົດ, ອຸປະກອນນີ້ຮອງຮັບຮູບແບບທົດສອບຫຼາຍແນວ ເຊັ່ນ HBM, MM ແລະ latch-up ຊຶ່ງເໝາະກັບຫ້ອງກວດສອບທີ່ຕ້ອງການ workflow ທີ່ມີຄວາມເປັນລະບົບ.

ອີກຕົວຢ່າງໜຶ່ງແມ່ນ Tekbox TBLDS1 ທີ່ເນັ້ນການຈຳລອງສະພາບລົບກວນແບບ transient ດ້ວຍການປັບ rise time, fall time ແລະຮູບແບ