ຕົວກວດສອບສົງຄັນ

ໃນງານທົດສອບ, ການວັດຄ່າ ແລະ ການສ້າງ test fixture ສຳລັບອຸປະກອນອີເລັກໂທຣນິກ, ຈຸດສຳຜັດທີ່ແນ່ນອນແລະສະໝ່ຳເສມມີຜົນຕໍ່ຄວາມແມ່ນຍຳຂອງການກວດສອບໂດຍກົງ. ດັ່ງນັ້ນ ຕົວກວດສອບສົງຄັນ ຫຼື spring-loaded test probes ຈຶ່ງເປັນອົງປະກອບສຳຄັນໃນລະບົບກວດວັດທີ່ຕ້ອງການການສຳຜັດຊ້ຳໆໄດ້ດີ, ຮອງຮັບການເຄື່ອນຕົວ ແລະ ຊ່ວຍຫຼຸດຄວາມສ່ຽງຈາກການສຳຜັດບໍ່ສະໝ່ຳເສມ.

ຫນ້າໝວດນີ້ເໝາະສຳລັບຜູ້ອອກແບບ fixture, ຝ່າຍວິສະວະກຳທົດສອບ, ຝ່າຍຜະລິດ ແລະ ຈັດຊື້ B2B ທີ່ຕ້ອງການເລືອກ probe ໃຫ້ກົງກັບຮູບແບບຈຸດສຳຜັດ, ແຮງກົດ, ຊ່ວງຍຸບຕົວ ແລະ ກະແສທີ່ຮອງຮັບ. ການເຂົ້າໃຈໂຄງສ້າງຂອງ probe ແລະ receptacle ຈະຊ່ວຍໃຫ້ເລືອກອຸປະກອນໄດ້ກົງວຽກຫຼາຍຂຶ້ນ.

ບົດບາດຂອງ test probe ໃນງານທົດສອບແລະການຜະລິດ

probe ແບບມີສະປິງຖືກນຳໃຊ້ເພື່ອສ້າງການສຳຜັດໄຟຟ້າຊົ່ວຄາວຫຼືແບບກົດສຳຜັດຊ້ຳໆ ໂດຍບໍ່ຕ້ອງບັດກະກີ ຫຼື ຕໍ່ຖາວອນ. ໃນສາຍການຜະລິດ, ອຸປະກອນກຸ່ມນີ້ມັກໃຊ້ໃນ ICT fixture, functional test, board-level verification ແລະ ການກວດຄ່າສັນຍານຢູ່ຈຸດ test pad ຫຼື contact point ທີ່ມີພື້ນທີ່ຈຳກັດ.

ຈຸດເດັ່ນຂອງ probe ປະເພດນີ້ຄື ການຊົດເຊີຍຄວາມຄາດເຄື່ອນທາງກາຍະພາບ ຜ່ານການຍຸບຕົວຂອງສະປິງ. ນັ້ນໝາຍຄວາມວ່າ ແມ່ນແຕ່ເມື່ອພື້ນຜິວງານມີຄວາມຄາດເຄື່ອນນ້ອຍໆ, probe ກໍຍັງສາມາດຮັກສາແຮງກົດທີ່ເໝາະສົມໄດ້ ເພື່ອໃຫ້ຜົນການກວດວັດສະໝ່ຳເສມຫຼາຍຂຶ້ນ.

ໂຄງສ້າງພື້ນຖານ: probe, receptacle ແລະອຸປະກອນປະກອບ

ໃນການນຳໃຊ້ຈິງ, ລະບົບສຳຜັດມັກບໍ່ໄດ້ມີພຽງ probe ຢ່າງດຽວ. ຍັງມີ receptacle ຫຼື ຊຸດຮັບຕົວ probe ເພື່ອໃຫ້ການຕິດຕັ້ງແນ່ນອນ, ຮັກສາແນວການເຄື່ອນຕົວ ແລະ ຊ່ວຍໃນການຕໍ່ສາຍສັນຍານ. ຕົວຢ່າງໃນໝວດນີ້ມີ Smiths Interconnect IDI R-50C-WW-025 ຊຶ່ງເປັນ receptacle ຮູບແບບ wire wrap ສຳລັບງານປະກອບໃນ fixture.

ນອກຈາກນັ້ນ ຍັງອາດມີອຸປະກອນຊ່ວຍງານເຊັ່ນ Smiths Interconnect IDI RT-WT-HT ທີ່ເປັນ wire plug tool ເພື່ອຊ່ວຍໃນການປະກອບ ຫຼື ບຳລຸງຮັກສາ. ສ່ວນບາງລາຍການເຊັ່ນ Preci-Dip 0907-1-CLIP ກໍມີບົດບາດເປັນ contact component ທີ່ເຂົ້າມາສະໜັບສະໜູນລະບົບສຳຜັດໃຫ້ເໝາະກັບຮູບແບບການຕິດຕັ້ງທີ່ແຕກຕ່າງ.

ຮູບແບບປາຍສຳຜັດທີ່ຄວນເລືອກໃຫ້ກົງວຽກ

ຫນຶ່ງໃນຈຸດທີ່ຄວນພິຈາລະນາກ່ອນແມ່ນ Tip Style ຫຼື ຮູບຊົງຂອງປາຍ probe. ຖ້າພື້ນຜິວທີ່ຈະສຳຜັດເປັນ pad ຮາບ, ປາຍແບບ flat ເຊັ່ນ Smiths Interconnect IDI S-2-F-4-D ຫຼື S-2-F-8.3-G ອາດເໝາະກັບການກົດສຳຜັດໂດຍກົງ. ຖ້າຕ້ອງການການຈັບ