For full functionality of this site it is necessary to enable JavaScript.
EMIN.COM.LA
0
Product image

SM Metrology LITEsurf ອຸປະກອນທົດສອບຄວາມຮ້ອຍ (250 μm (+ 50 μm -200 μm))

ຕິດຕໍ່
ການຊຳລະເງິນທີ່ປອດໄພ
ການຮັບປະກັນຄຸນນະພາບ
ປ່ຽນ ແລະ ສົ່ງຄືນງ່າຍ
ມີບໍລິການຈັດສົ່ງ

Measuring range: 250 um (+ 50 um -200 um)

Resolution: 0,001 μm   

Accuracy class: 1° ISO/DIN 

Cut-off length: 0.25 - 0.8 - 2.5 mm

Number of cut-off: Selectable from 1 to 5      

Exploration travel: Until 17.5 mm      

Probe: Optical transduction system , 90° rotable for lateral measurements

8 parameters (on board)  

ISO: Ra, Rq, Rt, Rz, Rc, Rmax, RSm, RPc, 

MOTIF: Pt, R, AR, Rx, Ppc

Measurement parameters: 44 parameters (with APP Roughness Studio PREMIUM)   

ISO: Ra, Rq, Rt, Rz, Rp, Rv, Rc, Rsk, Rku, RSm, RΔq, RΔa, Rmax, Rδc, Rmr, RPc, RLo, Rlr, Rzjis, RHSC, R3z, hp, Ep 

JIS: Ra, Rq, Ry,  RzJIS, tp, RSm, S 

ASME: Rp, Rpm, RPc, Rsk, tp  

MOTIF: R, AR, Rx Rke, Rpke, Rvke, Mr1e, Mr2e, A1e, A2e   

Unit of measure: Millimeters and inches  

Interface: Monochrome OLED display and 3 waterproof membrane buttons

Language: Italian, French, English, German, Spanish, Portuguese  

Memory: Approx.18000 parameters only (0,8mm x 5) - Approx.30 with profile (0,8mm x 5)   

Autonomy: 10 hours of work and at least 300 measurements   

Connectivity: Integrated Bluetooth and USB, connection to Smartphone, Tablet and PC   

Standard equipment: LITEsurf roughness tester, USB charger, USB type C cable, 8mm diameter tail piece for mounting on the stand, roughness specimen, transport case, user manual  

Datasheet

ຕິດຕາມຂ່າວສານ ແລະ ຂໍ້ສະເໜີ

ຮັບສ່ວນຫຼຸດພິເສດຕາມປະລິມານ, ອັບເດດລາຄາຂາຍສົ່ງ ແລະ ການແຈ້ງເຕືອນສິນຄ້າໃໝ່ສົ່ງກົງເຖິງອິນບັອກຂອງທ່ານ.

ໂດຍການສະໝັກສະມາຊິກ, ທ່ານຍອມຮັບ ເງື່ອນໄຂການໃຫ້ບໍລິການ ແລະ ນະໂຍບາຍຄວາມເປັນສ່ວນຕົວ ຂອງພວກເຮົາ.

ການຊ່ວຍເຫຼືໍາດ່ວນ

ເຂົ້າເຖິງຜູ້ຊ່ຽວຊານທີ່ໄດ້ຮັບການຢັ້ງຢືນຂອງພວກເຮົາໂດຍກົງ